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Lädt ... 1999 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems (Dft '99): November 1-3, 1999 Albuquerque, New Mexico: Proceedingsvon IEEE Computer Society
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These proceedings cover: yield; testing techniques; built-in self-test architectures; fault modelling and simulation; design for testing; self-checking processing units and systems; self-checking memories and interconnections; diagnosis; and reconfiguration. Keine Bibliotheksbeschreibungen gefunden. |
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Google Books — Lädt ... GenresMelvil Decimal System (DDC)621Technology Engineering and allied operations Applied physicsKlassifikation der Library of Congress [LCC] (USA)BewertungDurchschnitt: Keine Bewertungen.Bist das du?Werde ein LibraryThing-Autor. |