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1999 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings

von IEEE Electron Devices Society, IEEE Intl. Reliability Physics Symp.

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This collection from the 1999 International Reliability Physics Symposium, includes work that identifies microelectronic failure of degeneration mechanisms, improves understanding of existing failure mechanisms, and demonstrates innovative analytical techniques and ways to build in reliability.
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621Technology › Engineering and allied operations › Applied physics

Klassifikation der Library of Congress [LCC] (USA)

TK7870.I578Technology › Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering › Electrical engineering. Electronics. Nuclear › Electronics

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